合肥科晶 M-3手持式四探针测试仪

合肥科晶 M-3手持式四探针测试仪

产品概述：

M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

合肥科晶 M-3手持式四探针测试仪产品特征：

• 测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成

• 手持式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准

• 宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程

• 操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示

• 多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试

工作电源：

• 208-240V，50/60Hz

• 电池供电：DC3.7V

探头：

• 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配

碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料

球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层

• 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差

选配：可选配快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度

测量范围、分辨率：

• 电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω

• 电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm

• 方块电阻：0.050～100.00kΩ/m2  分辨率0.001～10Ω/m2

基本误差：±1%FSB±2LSB

外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H

净重：0.3kg