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德国尼克斯分体涂层测厚仪

简要描述:

德国尼克斯分体涂层测厚仪
型号:QNIX4200P
分体涂层测厚仪: 基体:Fe磁性基体,测量范围:0-3000微米,探头:分体探头

更新时间:2020-10-09

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德国尼克斯分体涂层测厚仪

型号:QNIX4200P 

分体涂层测厚仪: 基体:Fe磁性基体,测量范围:0-3000微米,探头:分体探头

QNIX4200P涂层测厚仪分体设计,只需调零,无需校准,使用极其简单。QNix4200P为磁性测厚仪,可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单,携带方便,精度高,为广大用户所喜爱。

QNIX4200P涂层测厚仪分体化设计,只需调零,无需校准,使用极其简单。

 QNix4200P为磁性测厚仪,可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单,携带方便,精度高,为广大用户所喜爱。

在传统QNix4200基础上,为了满足客户不同的需要,特推出QNix4200P(分体式)机,探头和主机之间通过一根探头线连接起来,可以满足特定测量环境(比如狭小空间)的需要,测量更方便,使用更人性化,性价比更高

QNIX4200P涂层测厚仪产品优点:

分体化设计,满足不同环境的测量

只需调零,无需校准

体积小巧,操作方便

精度高

价格便宜

德国尼克斯分体涂层测厚仪技术参数

QNIX4200P涂层测厚仪技术参数

磁性基体(Fe模式)

QNix4200P有此功能

测量范围

Fe:0-3000um

显示精度

0.1um

精度

0-50um:≤±1um

50-1000um:≤±1.5%读数

1000-3000um≤±3%读数

小接触面

10×10mm

小曲率半径

凸面:3mm

凹面:25mm

小基体厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

温度补偿范围

0-60℃

显示

LCD液晶(带背光)

探头

红宝石固定式

电源

2×1.5V干电池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

QNix® 4200P SONDEN

Sonde

Messbereich

Substrat

Abweichung

QNix® 4200 3 mm

3000 µm

Fe

+/- (3% +- 2 µm)

QNix® 4200 5 mm

5000 µm

Fe

0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) 
2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)

Kleinste Messfläche

Kleinster Krümmungsradius

Kleinste Dicke des Substrats

25 mm

Konvex: 5 mm 
Konkav: 5 mm

200 µm

      

 

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